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ErrorLib — Industrielle Fehlercodes Bibliothek

Haftungsausschluss: ErrorLib ist ein unabhängiges technisches Referenztool. Obwohl wir Genauigkeit anstreben, überprüfen Sie immer die offiziellen Servicehandbücher des Herstellers, bevor Sie Wartungsarbeiten an Industrieanlagen durchführen. ErrorLib ist nicht mit den aufgeführten Marken verbunden.

Testxx.Fault

Sicherheitstest-Ausgangsdaten Ungenau oder Fehlerhaft

Allen-Bradley · Compact 5000 Digital I/O Modules

Was bedeutet Testxx.Fault ?

Dieses boolesche Tag zeigt an, dass die Daten für einen Sicherheitstestausgang Testxx ungenau sind und nicht vertrauenswürdig sind, oder der Kanal auf 'Not Used' eingestellt ist. Ein Tag-Wert von '1' bedeutet fehlerhafte Daten oder einen Fehler. Wenn ein short circuit im Pulse Test oder Power Supply mode erkannt wird, kann der Ausgang nicht in einen sicheren Zustand versetzt werden.

Häufige Ursachen

  • Ein zugrunde liegender Hardwarefehler am Testausgang (z.B. short circuit, interner Modulfehler, field power loss).
  • Der Testkanal Testxx ist in der Modulkonfiguration absichtlich auf 'Not Used' eingestellt.
  • Ein short circuit am Testausgang, während dieser im Pulse Test- oder Power Supply mode betrieben wird.

Reparaturschritte & Checkliste

Klicken Sie auf Schritte, um Ihren Fortschritt zu verfolgen.

  1. 1

    Zugriff auf Studio 5000 Logix Designer, um die Diagnoseinformationen des Moduls anzuzeigen und spezifische aktive Fehlerbedingungen bezüglich des Testkanals Testxx zu identifizieren (z.B. Testxx.ShortCircuit, Testxx.FieldPowerOff).

  2. 2

    Beheben und lösen Sie die spezifische, zugrunde liegende Fehlerbedingung, die für den Testkanal Testxx identifiziert wurde.

  3. 3

    Überprüfen Sie die Modulkonfiguration in Studio 5000 Logix Designer, um sicherzustellen, dass Testxx nicht absichtlich auf 'Not Used' eingestellt ist.

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Verifizierte technische Daten. Zuletzt aktualisiert: April 2026

Verwandte Fehlercodes

CIPSyncTimeoutCIP Sync Master TimeoutConnectionFaultedOwner-Controller Connection FaultCriticalTemperatureModule Critical Temperature
Quelle: Allen-Bradley Compact 5000 Digital I/O Modules
Open Manual (Page 130)Mehr Codes in diesem Handbuch suchen